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16 Mbit / 32 Mbit Multi-Purpose Flash Plus
SST39VF1601 / SST39VF3201
A Microchip Technology Company
RST#
CE#/OE#
T RP
SST39VF1602 / SST39VF3202
Not Recommended for New Designs
T RHR
Figure 16: RST# Timing Diagram (When no internal operation is in progress)
T RP
RST#
T RY
CE#/OE#
End-of-Write Detection
(Toggle-Bit)
Figure 17: RST# Timing Diagram (During Program or Erase operation)
V IHT
1223 F22.1
1223 F23.0
INPUT
V IT
REFERENCE POINTS
V OT
OUTPUT
V ILT
1223 F14.0
AC test inputs are driven at V IHT (0.9 V DD ) for a logic “1” and V ILT (0.1 V DD ) for a
logic “0”. Measurement reference points for inputs and outputs are V IT (0.5 V DD ) and V OT (0.5
V DD ). Input rise and fall times (10% ? 90%) are <5 ns.
Note: V IT - V INPUT Test
V OT - V OUTPUT Test
V IHT - V INPUT HIGH Test
V ILT - V INPUT LOW Test
Figure 18: AC Input/Output Reference Waveforms
TO TESTER
TO DUT
C L
1223 F15.0
Figure 19: A Test Load Example
?2011 Silicon Storage Technology, Inc.
24
DS25028A
08/11
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